高度技術研究所技術シーズ
高度技術研究所の開発中、あるいは保有している技術シーズの例をご覧ください。
１．高度技術研究所開発テーマ関連の論文等紹介
リスト
- ＜RIH(実画像ホログラム)超解像レーザ位相差顕微鏡＞
: 40nmを超える解像度を持ち透明微粒子を染色せずにその動きを実時間計測できる、いままで見えなかったものがみえる顕微鏡 - （１）論文タイトル：" Contrast-tuneable microscope for single-shot real-time imaging "
（論文タイトルをクリックするとAbstract、Figures and tablesを表示します）
掲載誌：Eur. Phys. J. Appl. Phys. 91, 30701(2020) - ＜複数の異なるサイズあるいは形状の物体を同時に識別する技術＞
- （２）論文タイトル：" A technique for making holograms easily and for measuring simultaneously the behaviour of particles of different sizes and/or shapes "
（論文タイトルをクリックするとAbstract、Figures and tablesを表示します）
掲載誌：Measurement Science and Technology 15(2004) - ＜最近の高度技術研究所関連の論文＞
- （３）論文タイトル：" Detection of image differences by Fourier transformed magnitude subtraction "
（論文タイトルをクリックするとAbstract、Figures and tablesを表示します）
掲載誌：Optik - International Journal for Light and Electron Optics - （４）論文タイトル：" Crosstalk image intensity reduction for color holograms by using reference beam coded with multicolored aperture array filter "
（論文タイトルをクリックするとAbstract、Figures and tablesを表示します）
掲載誌：Optics Communications - （５）論文タイトル：「フーリエ変換強度差分を用いた欠陥検出法の実装と評価」（J-STAGEへのリンク）
執筆者：梅津信幸,清水勲,小野達矢,鵜野克宏 掲載誌：精密工学会誌, Vol.78-06, pp.500-504, 2012
２．ウエハ汚染粒子等検査装置
本装置は、ウエハー基板、液晶ディスプレイ用透明ガラス、SAWフィルタ用の半透明基板などの、被検査物表面上の異物・表面を高精度に高速検査する装置です。従来技術では検査が困難で時間のかかった基板や、裏面の荒れた基板上の汚染粒子・異物や微細領域の表面の凹凸、スクラッチ等の欠陥を、大視野で瞬時にそれらを識別し、その位置を特定することを可能にしました。
３．その他の技術シーズ
その他の技術シーズの例については、以下の表を参照してください。
| 技術シーズ | 進捗状況 | 特徴 |
|---|---|---|
| 微粒子（形状、サイズ）実時間検査装置 | デモ機開発準備中 | 複数形状・サイズの同時識別、大視野光速度並列識別（国内外類例なし） |
| ナノ粒子群の大視野迅速検査装置 | 受注活動中 | 大視野高速検査（国内外類例なし） |
| 部品等欠陥迅速同時検査装置 | Software完成デモ機作成中 | 画像の高速並列処理識別 |
| Virgin基板欠陥検査装置 | デモ機作成準備中 | 大視野高速検査 |
| 微量ガス漏れ検査装置 | デモ機作成中 | 簡便、迅速検査 |
| インテリジェントなロボットの眼 | 基礎実験終了装置開発実験中 | 光アナログ識別、画像並列識別（国内外類例なし） |
| 液晶ガラス欠陥検査装置 | 検証実験 | 大視野検査、拡大不要（国内外類例なし） |
５．技術マップ
弊社の事業内容は、高度技術の研究開発及びコンサルタント業務、シンクタンク、新技術の開発と製品の製造・販売などです。研究領域・保有技術の概要を以下の図に示します。
